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Software Engineering and Middleware
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Erscheinungsdatum: 16.04.2003, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Software Engineering and Middleware, Titelzusatz: Third International Workshop, SEM 2002. Orlando, FL, USA, May 20-21, 2002, Revised Papers, Auflage: 2003, Redaktion: Coen-Porisini, Alberto // Hoeck, André van der, Verlag: Springer Berlin Heidelberg // Springer-Verlag GmbH, Sprache: Englisch, Schlagworte: EDV // Theorie // Software-Entw // Software Engineering // Internet // Programmierung // Distributed Data Processing // Informationssystem // Verteiltes System, Rubrik: Informatik, Seiten: 256, Informationen: Paperback, Gewicht: 401 gr, Verkäufer: averdo

Anbieter: averdo
Stand: 05.04.2020
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Software Engineering and Middleware
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Erscheinungsdatum: 13.04.2005, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Software Engineering and Middleware, Titelzusatz: 4th International Workshop, SEM 2004, Linz, Austria, September 20-21, 2004 Revised Selected Papers, Auflage: 2005, Redaktion: Gschwind, Thomas // Mascolo, Cecilia, Verlag: Springer Berlin Heidelberg // Springer Berlin, Sprache: Englisch, Schlagworte: EDV // Theorie // Software-Entw // Allgemeines // Distributed Data Processing // Informationssystem // Verteiltes System, Rubrik: Informatik, Seiten: 260, Informationen: Paperback, Gewicht: 400 gr, Verkäufer: averdo

Anbieter: averdo
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GSP-9300 - Spektrumanalysator GSP-9300, 3000 MH...
4.816,60 € *
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Der GSP-9300 ist ein leichter, kompakter 3 GHz-Spektralanalysator mit hohem C/P-Verhältnis. Der Frequenzbereich erstreckt sich von 9 kHz bis 3 GHz und bietet viele Funktionen wie RF- und Leistungsmessungen, digitale 2FSK-Kommunikationsanalysen, EMC-Vorprüfungen und P1dB-Punktmessungen.Das Gerät bietet eine schnelle Sweep-Geschwindigkeit von bis zu 307 us. Es ist das ideale Instrument für verschiedene Anwendungsbereiche wie Forschung und Lehre, technische Wartung und Qualitätsmanagement. Dieser leichte und kompakte Spektrumanalysator eignet sich auch für automatische Testsysteme und den Betrieb im Fahrzeug. Mit dem eingebauten Vorverstärker und der höchsten Empfindlichkeit von -152 dBm (1 Hz) ist er in der Lage, sehr schwache Signale zu messen. Um genaue Ergebnisse zu erhalten, beträgt die Abweichung bei geringer Leistung weniger als 1,5 dB.Alle häufig verwendeten Funktionen können schnell über Funktionstasten aufgerufen werden. Außerdem stehen fünf Sprachen (Englisch, Russisch, traditionelles Chinesisch, vereinfachtes Chinesisch und Japanisch) für die grafische Oberfläche zur Verfügung. Benutzer können die externe Software SpectrumShot für EMI-Testberichtverwaltung und -bewertung, Fernsteuerung und Wellenformdatenerfassung für lange Zeiträume verwenden. SpectrumShot kann zur Spektrumüberwachung zur Erkennung anormaler Funksignale eingesetzt werden. Die Software sendet E-Mails, um die Benutzer zu informieren, wenn eine Probleme auftreten.Produktvorteile:Frequenzbereich: 9 kHz bis ~ 3 GHzhohe Frequenzstabilität: 0,025 ppm3 dB RBW: 1 Hz bis zu ~ 1 MHz6 dB EMI-Filter: 200 Hz, 9 kHz, 120 kHz, 1 MHzPhasenrauschen: -88 dBc / Hz bei 1 GHz, 10 kHz Offsetintegrierte Messfunktionen: 2FSK-Analyse, AM / FM / ASK / FSK-Demodulation und -Analyse, EMV-Vorabtest, P1dB-Punkt, Oberwellen, Kanalleistung, N-dB-Bandbreite, OCBW, ACPR, SEM, TOI, CNR , CTB, CSO, Noise Marker, Frequenzzähler, Zeitbereichsleistung, Gated Sweepeingebaute Spektrogramm- und topographische Modi886 MHz IF-Ausgabe für erweiterte Anwendungen des BenutzersFernsteuerungsschnittstelle: LAN, USB, RS-232, GPIB (optional)eingebauter Vorverstärker und SequenzfunktionAchtung: Die Lieferzeit kann bis zu 14 Werktage in Anspruch nehmen, sofern der Artikel nicht auf Lager ist.

Anbieter: reichelt elektronik
Stand: 05.04.2020
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GSP-9300TG - Spektrumanalysator GSP-9300TG, 300...
6.200,80 € *
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Der GSP-9300 ist ein leichter, kompakter 3 GHz-Spektralanalysator mit hohem C/P-Verhältnis. Der Frequenzbereich erstreckt sich von 9 kHz bis 3 GHz und bietet viele Funktionen wie RF- und Leistungsmessungen, digitale 2FSK-Kommunikationsanalysen, EMC-Vorprüfungen und P1dB-Punktmessungen.Das Gerät bietet eine schnelle Sweep-Geschwindigkeit von bis zu 307 us. Es ist das ideale Instrument für verschiedene Anwendungsbereiche wie Forschung und Lehre, technische Wartung und Qualitätsmanagement. Dieser leichte und kompakte Spektrumanalysator eignet sich auch für automatische Testsysteme und den Betrieb im Fahrzeug. Mit dem eingebauten Vorverstärker und der höchsten Empfindlichkeit von -152 dBm (1 Hz) ist er in der Lage, sehr schwache Signale zu messen. Um genaue Ergebnisse zu erhalten, beträgt die Abweichung bei geringer Leistung weniger als 1,5 dB.Der eingebaute Tracking-Generator bietet zusätzliche Funktionen wie die Messung der Dämpfung von HF-Kabeln und die Erkennung des Frequenzgangs von Antennen, Filtern oder Verstärkenr.Alle häufig verwendeten Funktionen können schnell über Funktionstasten aufgerufen werden. Außerdem stehen fünf Sprachen (Englisch, Russisch, traditionelles Chinesisch, vereinfachtes Chinesisch und Japanisch) für die grafische Oberfläche zur Verfügung. Benutzer können die externe Software SpectrumShot für EMI-Testberichtverwaltung und -bewertung, Fernsteuerung und Wellenformdatenerfassung für lange Zeiträume verwenden. SpectrumShot kann zur Spektrumüberwachung zur Erkennung anormaler Funksignale eingesetzt werden. Die Software sendet E-Mails, um die Benutzer zu informieren, wenn eine Probleme auftreten.Produktvorteile:Frequenzbereich: 9 kHz bis ~ 3 GHzhohe Frequenzstabilität: 0,025 ppm3 dB RBW: 1 Hz bis zu ~ 1 MHz6 dB EMI-Filter: 200 Hz, 9 kHz, 120 kHz, 1 MHzPhasenrauschen: -88 dBc / Hz bei 1 GHz, 10 kHz Offsetintegrierte Messfunktionen: 2FSK-Analyse, AM / FM / ASK / FSK-Demodulation und -Analyse, EMV-Vorabtest, P1dB-Punkt, Oberwellen, Kanalleistung, N-dB-Bandbreite, OCBW, ACPR, SEM, TOI, CNR , CTB, CSO, Noise Marker, Frequenzzähler, Zeitbereichsleistung, Gated Sweepeingebaute Spektrogramm- und topographische Modi886 MHz IF-Ausgabe für erweiterte Anwendungen des BenutzersFernsteuerungsschnittstelle: LAN, USB, RS-232, GPIB (optional)eingebauter Vorverstärker und SequenzfunktionAchtung: Die Lieferzeit kann bis zu 14 Werktage in Anspruch nehmen, sofern der Artikel nicht auf Lager ist.

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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microana...
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This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) for elemental microanalysis, electron backscatter diffraction analysis (EBSD) for micro-crystallography, and focused ion beams. Students and academic researchers will find the text to be an authoritative and scholarly resource, while SEM operators and a diversity of practitioners - engineers, technicians, physical and biological scientists, clinicians, and technical managers - will find that every chapter has been overhauled to meet the more practical needs of the technologist and working professional. In a break with the past, this Fourth Edition de-emphasizes the design and physical operating basis of the instrumentation, including the electron sources, lenses, detectors, etc. In the modern SEM, many of the low level instrument parameters are now controlled and optimized by the microscope's software, and user access is restricted. Although the software control system provides efficient and reproducible microscopy and microanalysis, the user must understand the parameter space wherein choices are made to achieve effective and meaningful microscopy, microanalysis, and micro-crystallography. Therefore, special emphasis is placed on beam energy, beam current, electron detector characteristics and controls, and ancillary techniques such as energy dispersive x-ray spectrometry (EDS) and electron backscatter diffraction (EBSD). With 13 years between the publication of the third and fourth editions, new coverage reflects the many improvements in the instrument and analysis techniques. The SEM has evolved into a powerful and versatile characterization platform in which morphology, elemental composition, and crystal structure can be evaluated simultaneously. Extension of the SEM into a "dual beam" platform incorporating both electron and ion columns allows precision modification of the specimen by focused ion beam milling. New coverage in the Fourth Edition includes the increasing use of field emission guns and SEM instruments with high resolution capabilities, variable pressure SEM operation, theory, and measurement of x-rays with high throughput silicon drift detector (SDD-EDS) x-ray spectrometers. In addition to powerful vendor- supplied software to support data collection and processing, the microscopist can access advanced capabilities available in free, open source software platforms, including the National Institutes of Health (NIH) ImageJ-Fiji for image processing and the National Institute of Standards and Technology (NIST) DTSA II for quantitative EDS x-ray microanalysis and spectral simulation, both of which are extensively used in this work. However, the user has a responsibility to bring intellect, curiosity, and a proper skepticism to information on a computer screen and to the entire measurement process. This book helps you to achieve this goal. Realigns the text with the needs of a diverse audience from researchers and graduate students to SEM operators and technical managers Emphasizes practical, hands-on operation of the microscope, particularly user selection of the critical operating parameters to achieve meaningful results Provides step-by-step overviews of SEM, EDS, and EBSD and checklists of critical issues for SEM imaging, EDS x-ray microanalysis, and EBSD crystallographic measurements Makes extensive use of open source software: NIH ImageJ-FIJI for image processing and NIST DTSA II for quantitative EDS x-ray microanalysis and EDS spectral simulation. Includes case studies to illustrate practical problem solving Covers Helium ion scanning microscopy Organized into relatively self-contained modules - no need to "read it all" to understand a topic Includes

Anbieter: buecher
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This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) for elemental microanalysis, electron backscatter diffraction analysis (EBSD) for micro-crystallography, and focused ion beams. Students and academic researchers will find the text to be an authoritative and scholarly resource, while SEM operators and a diversity of practitioners - engineers, technicians, physical and biological scientists, clinicians, and technical managers - will find that every chapter has been overhauled to meet the more practical needs of the technologist and working professional. In a break with the past, this Fourth Edition de-emphasizes the design and physical operating basis of the instrumentation, including the electron sources, lenses, detectors, etc. In the modern SEM, many of the low level instrument parameters are now controlled and optimized by the microscope's software, and user access is restricted. Although the software control system provides efficient and reproducible microscopy and microanalysis, the user must understand the parameter space wherein choices are made to achieve effective and meaningful microscopy, microanalysis, and micro-crystallography. Therefore, special emphasis is placed on beam energy, beam current, electron detector characteristics and controls, and ancillary techniques such as energy dispersive x-ray spectrometry (EDS) and electron backscatter diffraction (EBSD). With 13 years between the publication of the third and fourth editions, new coverage reflects the many improvements in the instrument and analysis techniques. The SEM has evolved into a powerful and versatile characterization platform in which morphology, elemental composition, and crystal structure can be evaluated simultaneously. Extension of the SEM into a "dual beam" platform incorporating both electron and ion columns allows precision modification of the specimen by focused ion beam milling. New coverage in the Fourth Edition includes the increasing use of field emission guns and SEM instruments with high resolution capabilities, variable pressure SEM operation, theory, and measurement of x-rays with high throughput silicon drift detector (SDD-EDS) x-ray spectrometers. In addition to powerful vendor- supplied software to support data collection and processing, the microscopist can access advanced capabilities available in free, open source software platforms, including the National Institutes of Health (NIH) ImageJ-Fiji for image processing and the National Institute of Standards and Technology (NIST) DTSA II for quantitative EDS x-ray microanalysis and spectral simulation, both of which are extensively used in this work. However, the user has a responsibility to bring intellect, curiosity, and a proper skepticism to information on a computer screen and to the entire measurement process. This book helps you to achieve this goal. Realigns the text with the needs of a diverse audience from researchers and graduate students to SEM operators and technical managers Emphasizes practical, hands-on operation of the microscope, particularly user selection of the critical operating parameters to achieve meaningful results Provides step-by-step overviews of SEM, EDS, and EBSD and checklists of critical issues for SEM imaging, EDS x-ray microanalysis, and EBSD crystallographic measurements Makes extensive use of open source software: NIH ImageJ-FIJI for image processing and NIST DTSA II for quantitative EDS x-ray microanalysis and EDS spectral simulation. Includes case studies to illustrate practical problem solving Covers Helium ion scanning microscopy Organized into relatively self-contained modules - no need to "read it all" to understand a topic Includes

Anbieter: buecher
Stand: 05.04.2020
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Partial Least Squares Strukturgleichungsmodelli...
41,00 € *
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Die Partial Least Squares Strukturgleichungsmodellierung (PLS-SEM) hat sich in der wirtschafts- und sozialwissenschaftlichen Forschung als geeignetes Verfahren zur Schätzung von Kausalmodellen behauptet. Dank der Anwenderfreundlichkeit des Verfahrens und der vorhandenen Software ist es inzwischen auch in der Praxis etabliert.Dieses Buch liefert eine anwendungsorientierte Einführung in die PLS-SEM. Der Fokus liegt auf den Grundlagen des Verfahrens und deren praktischer Umsetzung mit Hilfe der SmartPLS-Software. Das Konzept des Buches setzt dabei auf einfache Erläuterungen statistischer Ansätze und die anschauliche Darstellung zahlreicher Anwendungsbeispiele anhand einer einheitlichen Fallstudie. Viele Grafiken, Tabellen und Illustrationen erleichtern das Verständnis der PLS-SEM. Zudem werden dem Leser herunterladbare Datensätze, Videos, Aufgaben und weitere Fachartikel zur Vertiefung angeboten. Damit eignet sich das Buch hervorragend für Studierende, Forscher und Praktiker, die die PLS-SEM zur Gewinnung von Ergebnissen mit den eigenen Daten und Modellen nutzen möchten.SmartPLS ist das führende Softwareprogramm zur Schätzung von PLS-basierten Strukturgleichungsmodellen. Die Erläuterungen und die im Buch vorgeschlagenen Vorgehensweisen spiegeln den aktuellen Stand der Forschung wider.Das AutorenteamJoseph F. Hair, Jr. ist Professor für Marketing an der University of South Alabama und mit mehr als 50 veröffentlichten Büchern, darunter das mit über 140.000 Zitationen als weltweites Standardwerk zu bezeichnende Buch "Multivariate Data Analysis", einer der führenden Experten auf dem Gebiet der anwendungsorientierten Statistik.G. Thomas Hult ist Professor für Marketing und International Business am Eli Broad College of Business an der Michigan State University und mit mehr als 31.000 Zitationen bei Google Scholar einer der meist zitierten Forscher in den Wirtschaftswissenschaften, der sich in seiner Forschung intensiv mit verschiedenen Verfahren der SEMauseinandersetzt.Christian M. Ringle ist Professor für Betriebswirtschaftslehre und Leiter des Instituts für Personalwirtschaft und Arbeitsorganisation an der Technischen Universität Hamburg (und assoziierter Professor an der University of Newcastle in Australien), Mitentwickler von SmartPLS und einer der prominentesten Vertreter der PLS-SEM in der weltweiten Forschungslandschaft.Marko Sarstedt ist Professor für Marketing an der Otto-von-Guericke Universität Magdeburg (und assoziierter Professor an der University of Newcastle in Australien), laut Handelsblatt-Ranking einer der führenden Junior-Marketingforscher und einer der prominentesten Vertreter der PLS-SEM in der weltweiten Forschungslandschaft.Nicole F. Richter ist Professorin für International Business an der University of Southern Denmark und beschäftigt sich seit ihrer Habilitation am Institut von Prof. Ringle in ihren Publikationen kritisch mit dem Einsatz statistischer Verfahren in der internationalen Managementforschung.Sven Hauff vertritt aktuell die Professur für Arbeit, Personal und Organisation an der Helmut-Schmidt-Universität in Hamburg und wendet seit seiner Dissertation die PLS-SEM in verschiedenen Forschungs- und Publikationsprojekten an.

Anbieter: buecher
Stand: 05.04.2020
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Partial Least Squares Strukturgleichungsmodelli...
39,80 € *
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Die Partial Least Squares Strukturgleichungsmodellierung (PLS-SEM) hat sich in der wirtschafts- und sozialwissenschaftlichen Forschung als geeignetes Verfahren zur Schätzung von Kausalmodellen behauptet. Dank der Anwenderfreundlichkeit des Verfahrens und der vorhandenen Software ist es inzwischen auch in der Praxis etabliert.Dieses Buch liefert eine anwendungsorientierte Einführung in die PLS-SEM. Der Fokus liegt auf den Grundlagen des Verfahrens und deren praktischer Umsetzung mit Hilfe der SmartPLS-Software. Das Konzept des Buches setzt dabei auf einfache Erläuterungen statistischer Ansätze und die anschauliche Darstellung zahlreicher Anwendungsbeispiele anhand einer einheitlichen Fallstudie. Viele Grafiken, Tabellen und Illustrationen erleichtern das Verständnis der PLS-SEM. Zudem werden dem Leser herunterladbare Datensätze, Videos, Aufgaben und weitere Fachartikel zur Vertiefung angeboten. Damit eignet sich das Buch hervorragend für Studierende, Forscher und Praktiker, die die PLS-SEM zur Gewinnung von Ergebnissen mit den eigenen Daten und Modellen nutzen möchten.SmartPLS ist das führende Softwareprogramm zur Schätzung von PLS-basierten Strukturgleichungsmodellen. Die Erläuterungen und die im Buch vorgeschlagenen Vorgehensweisen spiegeln den aktuellen Stand der Forschung wider.Das AutorenteamJoseph F. Hair, Jr. ist Professor für Marketing an der University of South Alabama und mit mehr als 50 veröffentlichten Büchern, darunter das mit über 140.000 Zitationen als weltweites Standardwerk zu bezeichnende Buch "Multivariate Data Analysis", einer der führenden Experten auf dem Gebiet der anwendungsorientierten Statistik.G. Thomas Hult ist Professor für Marketing und International Business am Eli Broad College of Business an der Michigan State University und mit mehr als 31.000 Zitationen bei Google Scholar einer der meist zitierten Forscher in den Wirtschaftswissenschaften, der sich in seiner Forschung intensiv mit verschiedenen Verfahren der SEMauseinandersetzt.Christian M. Ringle ist Professor für Betriebswirtschaftslehre und Leiter des Instituts für Personalwirtschaft und Arbeitsorganisation an der Technischen Universität Hamburg (und assoziierter Professor an der University of Newcastle in Australien), Mitentwickler von SmartPLS und einer der prominentesten Vertreter der PLS-SEM in der weltweiten Forschungslandschaft.Marko Sarstedt ist Professor für Marketing an der Otto-von-Guericke Universität Magdeburg (und assoziierter Professor an der University of Newcastle in Australien), laut Handelsblatt-Ranking einer der führenden Junior-Marketingforscher und einer der prominentesten Vertreter der PLS-SEM in der weltweiten Forschungslandschaft.Nicole F. Richter ist Professorin für International Business an der University of Southern Denmark und beschäftigt sich seit ihrer Habilitation am Institut von Prof. Ringle in ihren Publikationen kritisch mit dem Einsatz statistischer Verfahren in der internationalen Managementforschung.Sven Hauff vertritt aktuell die Professur für Arbeit, Personal und Organisation an der Helmut-Schmidt-Universität in Hamburg und wendet seit seiner Dissertation die PLS-SEM in verschiedenen Forschungs- und Publikationsprojekten an.

Anbieter: buecher
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Software Engineering and Middleware ab 74.99 € als Taschenbuch: Third International Workshop SEM 2002. Orlando FL USA May 20-21 2002 Revised Papers. Auflage 2003. Aus dem Bereich: Bücher, Ratgeber, Computer & Internet,

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